超声波扫描（C-SAM)分析

利用超声波脉冲检测样品内部的空隙、气泡等缺陷。

可用于观察PCB、组件内部的芯片粘接失效、分层、裂纹、夹杂物、空洞等。

分辨率： 50~100μm  

探头频率： 15MHz/30MHz、50MHz/230MHz

扫描模式： 传输时间测量模式(A-Scan)

表面及横向截面扫描模式(C-Scan)

纵向截面成像模式(B-Scan)

透射扫描(T-Scan,限15MHz/30MHz探头)