快速温变试验是利用外加的环境应力，使潜存于电子产品研发、设计、生产制造过程中心、因不良元器件、制造工艺或其它原因造成的故障提前暴露出来。

目的：评估电子组件、主板或其他测试样品经快速温度变化、连续温度变化或温度与湿度的组合加速环境后之功能特性变化。

快速温变是规定了温度变化速率的温度变化，常常模拟昼夜温差大的地区环境，也可用于寿命试验，用以考核元器件或产品的外观、机械性能及电气性能。

适用阶段：产品量产阶段。

厂牌：WEISS

测试空间: 270 L、800 L

温度范围: (-70~180) ℃

温变速率: 25℃/min-(MAX)

优尔鸿信检测技术有限公司

技术实力雄厚：公司从事制造业海量可靠性测试，已有多年经验，为国内可靠性测试先驱之一

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