SEM+EDS分析

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SEM+EDS分析

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扫描电镜测试原理

利用高能电子束轰击样品表面激发各种信号,可对陶瓷、金属、粉末、塑料等样品进行形貌观察和成分分析。

SEM形貌分析:利用背散射电子(BEI)和二次电子(SEI)来成像。

EDS成分分析:通过特征X-RAY获取样品表面的成分信息。

设备名称:扫描电子显微镜


相关检测:

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